Содержание
Ржанов А.В.
Исследования некоторых электронных процессов на поверхности германия …3
Предисловие …3
Глава I. Влияние поверхностной рекомбинации на характеристики германиевых
приборов …5
Глава II. Поверхность полупроводника и поверхностные электронные процессы …14
Глава III. Исследования поверхностной рекомбинации и захвата в качестве метода
изучения поверхностных дефектов структуры …42
Глава IV. Основные результаты исследований поверхностной рекомбинации
в германии …62
Глава V. Дальнейшее развитие теории поверхностной рекомбинации …. 105
Глава VL Основные выводы …118
Литература …123
Адирович Э.И., Губкин А.Н., Копыловский Б.Д.
Новый метод определения малых времен жизни в p-n-переходах …126
Предисловие………………. 127
Литература………………. 170
Библиографический указатель работ сотрудников Лаборатории физики полупроводников ФИАН.
1932—1961гг. …172
Список принятых сокращений, названий источников …191
Алфавитный указатель авторов …192